-

  专利 返回首页  
   
 专利名称  基于二次B样条曲线对G01代码的拟合及插补方法
 申请日  2009-04-28
 法律状态  有效专利
 主分类号  G05B19/41
 申请人  中国科学院数学与系统科学研究院
 发明人  张梅;袁春明;闫伟;王定康;李洪波;高小山
 公开号  CN101539769
 公开日  2009-09-23
 代理机构  北京德琦知识产权代理有限公司
 代理人  夏宪富
 地址  100190|北京市海淀区中关村东路55号
 优先权  
 国省代码  北京(11)
 摘要  一种基于二次B样条曲线对G01代码的拟合及插补方法,是先通过自适应方法选取G01代码所描述的每组小线段的各个特征点,再用通过所有特征点的二次B样条曲线拟合待加工路径。并根据二次B样条曲线的性质和数控机床各驱动轴加速度的限制,同时求得该二次B样条曲线的最大允许加工速度曲线(VLC曲线)和该VLC曲线上的各速度关键点;然后根据各个速度关键点、每个关键点的控制轴及其最大允许加工速度和VLC曲线,计算出实际加工速度曲线;并根据实际加工速度曲线与插补误差计算插补点,完成实时插补。本发明方法计算速度快,加工精度高,工作性能稳定,适用范围广,能在满足系统预设精度前提下,实时完成样条曲线的插补计算,满足高速、高精度数控加工需求。
 主权项  1、一种用于数控机床的基于二次B样条曲线对G01代码的拟合及插补方法,其特征在于:包括下列操作步骤:(1)根据逼近误差自适应选取G01代码中的特征点,并用通过所有特征点的二次B样条曲线拟合待加工路径:对G01代码描述的每组小线段进行几何参数的计算,初步选出描述每组小线段形状特征的特征点,再用二次贝塞尔(Bézier)曲线依次插值每相邻的三个特征点,并找到每次插值的三个特征点中的首点和末点在原G01代码序列中的对应位置,计算上述两个对应位置之间的所有非特征点的数据点到二次Bézier插值曲线的距离,并根据该距离和系统预设精度要求,自适应地添加新的特征点;然后用二次B样条曲线插值所有特征点,得到用于拟合待加工路径的二次B样条曲线;(2)以二次B样条曲线实现数控机床分轴控制的最优插补加工:根据该二次B样条曲线的性质和
 国际申请号  
 国际申请日  
 国际公开号  
 国际公开日  
 进入国家日期